Probe Cards

Probe Cards für Wafer-Test-Applikationen:

  • Epoxy-Probe Cards mit über 1.000 Testpunkten
  • Multi-Die-Probing für bis zu 64 parallele Plättchen
  • High-Density Probe Cards für Rastermaße ab 50µm für z.B. Mikroprozessoren, ASIC oder Hochfrequenzanwendungen

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