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Die uwe electronic bietet Ihnen fünf Standard Lid Designs für Testsockel an. Alle fünf Lid Designs verfügen über einen runden Port mit 15mm Durchmesser, der einen thermischen Zugang zum IC-Baustein ermöglicht. Auf diese Weise kann Luft direkt auf die Oberfläche des IC-Bausteins gebracht werden, um die Temperatur zu regeln. |
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Das Clamshell Lid ist besonders für manuelle Testanwendungen geeignet, wie z. B. Charakterisierungen, Fehleranalysen und Vorserientests. |
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Der VCC or Vertical Compression Clamshell Lid hat einen definierten Anpressdruck. Dadurch wird der Prüfling beim Schließen mit Anpressdruck an die Stifte gedrückt. Das Design gewährleistet mühelose lieare Kompression des Gerätes. Damit kommen wir dem Wunsch vieler Kunden nach, die nur eine Stellbewegung haben möchten. |
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Das Clip-On Setup Lid kann schnell und einfach auf den Sockel gesteckt werden. Es ist für Test-Setup Anwendungen gedacht, die nur wenige Testzyklen erfordern. |
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Das One-Piece Bolt-On Lid stellt den einfachsten Ansatz zum Testen von geringsten Stückzahlen dar. Es wird durch das Anziehen der Fixierungsschrauben in den Testzustand gebracht und ermöglicht einen wirtschaftlichen günstigen Ansatz bei langen Testzeiten und geringsten Testzyklen. |
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Das Integral Lid ist stets fest mit dem Sockel verbunden und ist dadurch ein sehr einfachen Ansatz für manuelle Testanwendungen. Auch in das Integral Lid können die meisten Sondermerkmale von Lids wie z.B. mehrere Lid Plunger und wärmebezogene Konstruktionsmerkmale eingearbeitet werden. |
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