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Revolutionäres Fine Pitch Testadapter-System für den Incircuit- und Funktionstest mit 0,3 mm Rastermaß

Die uwe electronic, einer der führenden Anbieter im ATE-Bereich, hat ein neuartiges Testadapter-System im Programm. Dieses revolutionäre System ist für den Test von bestückten Leiterplatten und Hybriden mit sehr kleinen Testpads und Raster bis zu 0,3mm konstruiert.

Herausforderung:

Fine Pitch Die Miniaturisierung und die Packungsdichte auf Leiterplatten und Hybriden schreitet unaufhaltsam voran, was kleinere Prüfpads im kleineren Raster zur Folge hat. Die bisher üblichen Spezifikationen für die Prüfstruktur auf einer bestückten Leiterplatte liegen bei einem Rastermaß von 2,54 und 1,27 mm und Paddurchmessern von >0,8 mm. Daraus resultiert, dass vielfach die für den Test erforderliche Anzahl von Testpads nicht mehr zur Verfügung steht und die Testtiefe dadurch zwangsläufig erheblich reduziert werden muss. Wie sich die Komplexität der Leiterplatten in den letzten Jahren verändert hat, können Sie der folgenden Tabelle entnehmen :

 

  1970 1980 1990 2000
Anzahl der Lagen 4 10 20 > 40
Bohrlochanzahl/cm² 6 16 64 > 150
Dicke [mm] 1,5 3,0 5,0 10,0
Bohrlochdurchmesser [mm] 1,0 0,6 0,3 0,1
Leiterzugbreite [mm] 0,25 0,13 0,08 0,03
Abmessungen [mm] 254x381 495x600 600x600 1200x600

 

Ansatz:

Die genannte Problematik hat uns dazu bewegt, eine im Incircuit- und Funktionstest vollkommen neuartige Adapterlösung zu entwickeln: das sog. ZOOM-FIXTURING Fine Pitch

Ziele:

  • Die Lösung muss sowohl auf dem Standard-Vakuumadapter, als auch auf mechanisch-pneumatischen Adaptern sowie In-line Systemen verwendbar sein.
  • Rasterabstände von min. 0.3 mm oder besser müssen bei Standard-Toleranzen von Leiterplatten realisiert werden.
  • Pad-Durchmesser von 0.3mm bei entsprechenden Leiterplatten-Toleranzen müssen sicher kontaktiert werden.
  • Eine beidseitige Kontaktierung muss möglich sein.
  • Die Nadeln müssen mit einfachen Mitteln schnell zu tauschen sein.
  • Die Kosten der Verschleißteile müssen reduziert werden.
  • Bei dem Re-Design einer Leiterplatte oder ähnlichen Prüflingen, muss gewährleistet sein, dass nicht ein komplett neuer Adapter notwendig wird, d.h. auch schon für die Nullserie ist unser ZOOM-FIXTURING interessant.

Lösung:

Fine PitchDie Entwicklung unseres ZOOM-FIXTURING-Systems wurde durch konsequente und präzise Umsetzung der Ziele bestimmt. Aufgrund unserer mehr als 10-jährigen Erfahrung aus dem Incircuit-, Funktions- und Bare Board Test ist es uns gelungen ein System zu konstruieren, das alle oben genannten Ziele abdeckt. Mittlerweile ist dies auch bereits bei mehreren Kunden in größerer Anzahl unter Produktionsbedingungen erprobt, und hat die verantwortlichen Prüfingenieure überzeugt.