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Prüf- und Testsockel werden in der Halbleiterindustrie zum Test von ICs (Integrated Circuits), also integrierten Schaltkreisen verwendet. Hierbei dienen die Testsockel als mechanische Prüfaufnahme für den Test hoher Stückzahlen von integrierten Schaltkreisen. Ein Prüf- oder Testsockel besteht aus einem Kunststoffgrundkörper, der mit Federkontakten bestückt wird.

Alle Prüfsockel werden auf Wunsch kundenspezifisch konstruiert und gefertigt. Testsockel eignen sich zum Prüfen und Testen von BGA , QFN , QFP, WLCSP , FC, PGA und TSSOP Gehäusen. Auch PoP (Package on Package) Bausteine können mit Testsockeln geprüft werden.

Lesen Sie mehr Details zu den unterschiedlichen Gehäusen in den Untermenüs.