Veröffentlicht: 16. Oktober 2026

Kompakte Koaxial-Stifte zum Einsatz in der HF-Messtechnik bzw. in der sicheren Signalübertragung.

Änderungen vorbehalten!

Veröffentlicht: 16. Oktober 2026

Die Federkontakte der High-Performance ICT-Titanium-Pro-Serie überzeugen durch ihre Technik des sicher geführten Kolbens, was sich in einer maximierten Treffgenauigkeit bei minimierten Übergangswiderständen zeigt.

ICT- Bericht (detaillierte Informationen zur ICT-Serie)

ICT = High Performance
S = Standard Performance

Änderungen vorbehalten!

Veröffentlicht: 16. Oktober 2026

Durch ihr einzigartiges Bias-Ball-Design sind unsere Hochstrom-Federkontaktstifte ideal geeignet, um maximale Ströme bei minimalen Übergangswiderständen zu übertragen.

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten!

Veröffentlicht: 16. Oktober 2026

Sobald ein Widerstand im Milliohm-Bereich gemessen werden soll, ist der Prüfkontakt selbst der größte Fehler in der Messkette. Unsere Kontaktzangen lösen dieses Problem an der Stelle, an der es entsteht: Sie greifen den Anschlusspin des Prüflings mit zwei elektrisch getrennten Kontaktfahnen und stellen so den Strom- und den Spannungspfad in einer einzigen Steckbewegung her.

Was eine Kontaktzange von einem Prüfstift unterscheidet

Ein klassischer Federkontaktstift besteht aus Hülse, Kolben und Feder und kontaktiert einen Punkt. Für eine Vierleitermessung bräuchten Sie davon zwei – und am selben Pin ist dafür in aller Regel kein Platz. Eine Kontaktzange arbeitet deshalb anders: Zwei gegenüberliegende, vorgespannte und vergoldete Kontaktfahnen sind durch einen Isolierkörper elektrisch voneinander getrennt. Die Vorspannung sorgt für den definierten Anpressdruck, die Trennung für zwei unabhängige Pfade an ein und demselben Kontaktpunkt.

Daraus ergeben sich die Eigenschaften, die diese Bauform in der Prüftechnik so verbreitet gemacht haben:

• Geringe Steckkräfte – der Prüfling wird gegriffen, nicht durchstoßen – Beschädigungen am Anschlusspin sind ausgeschlossen
• Niedrige Übergangswiderstände – je nach Typ zwischen 0,8 und 20 mΩ, und damit reproduzierbar genug für Messungen im Milliohm-Bereich
• Hohe Strombelastbarkeit – von 3 A bei den kleinsten Bauformen bis 40 A bei den Flachsteckerzangen
• Ermüdungsarme Konstruktion – die Kontaktfahnen arbeiten im vorgespannten Bereich und nicht an der Elastizitätsgrenze
• Hohe Steckzyklenbeständigkeit – je nach Typ 100.000 bis 300.000 Zyklen ohne nennenswerten Verschleiß
• Schnelle Montage – die Bauformen sind auf den Einbau in Prüfadapter und Kontaktierungsvorrichtungen ausgelegt

 

Zeichnung [mm]:

 

Wo Vierleitermessung gebraucht wird

Immer dann, wenn der zu messende Widerstand in derselben Größenordnung liegt wie die Zuleitungen und Kontakte der Messvorrichtung. Typische Prüfaufgaben sind Crimp- und Schweißverbindungen, Zellverbinder und Stromschienen in Batteriemodulen, Wicklungen von Motoren und Transformatoren, Shunts und Sicherungen, Relais- und Steckverbinderkontakte sowie Durchgangsmessungen in Kabelbäumen.

Wie das Verfahren im Detail funktioniert, warum die Spannungsmessung innen liegen muss und ab welcher Größenordnung sich der Aufwand lohnt, erklären wir ausführlich auf unserer Seite zur Vierleitermessung.

Unser Programm

Neun Bauformen decken die gängigen Rastermaße von 2,40 bis 7,00 mm sowie Rund- und Flachstecker ab:

Änderungen und Irrtümer vorbehalten.

Welche Zange für welchen Prüfling?

• Rundstecker und Messerkontakte im engen Raster – UE53-P-085, -090 und -095 arbeiten bereits ab 2,40 mm Polabstand; die Ausführung -085 ist beidseitig gefedert
• Standardraster 2,54 mm – UE53-P-100 für kleine Ströme, UE53-P-125 für 10 A bei nur 4 mΩ Übergangswiderstand
• Raster 3,75 mm – UE53-P-150 als robuste Ausführung mit 2,93 mm Durchmesser
• Flachstecker und Hochstrom – UE53-P-165 für 20 A im 4,20-mm-Raster, UE53-P-275 für 40 A im 7,00-mm-Raster bei 0,8 mΩ

Passt keine der Standardbauformen zu Ihrem Prüfling, konstruieren wir die Kontaktierung als Sonderlösung – das ist seit 1994 unser Tagesgeschäft.

Vierleitermessung im Halbleitertest

Dasselbe Messprinzip begegnet Ihnen im Halbleitertest in völlig anderer Bauform: Dort sitzen zwei getrennt gefederte Kontakte in rund 0,125 mm Abstand innerhalb eines Pitches von 0,5 mm, um an einem einzelnen Ball eines BGA vierleitrig zu messen. Wenn Sie dort unterwegs sind, führt Sie unsere Sektion Testsockel weiter.