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Semiconductor Probe

leeno semiconductor probe Durch die Benutzung von Federkontaktsonden zur Untersuchung von Halbleiter-"packages" kann der Kunde verschiedenste "package-types" testen, mit LEENO’s "Total Interface Solution".


Feinrastersonde

leeno semiconductor fine pitch probe

Zylinderdurchmesser: 0,08 mm ~
Länge der Sonde: A mm ~ 4,5 mm ~ Z mm

RF Sonde

leeno semiconductor rf probe

Zylinderdurchmesser: 0,25 mm
Länge der Sonde: 0,85 mm ~ 1,23 mm ~ Z mm