Die Testzeit pro Bauteil ist im Serientest der größte Kostentreiber. Multisite-Testsockel setzen genau dort an: Sie kontaktieren mehrere Prüflinge gleichzeitig, sodass sich Handling- und Testzeiten auf mehrere Bauteile verteilen. Der Durchsatz steigt, ohne dass ein zweiter Testplatz nötig wird.
Drei Ausprägungen
- Strip-Test-Sockel: Ganze Nutzen werden am Stück kontaktiert – bewährt und inzwischen sowohl für automatisches Einlegen als auch für manuelles Setup verfügbar, mit deutlich verbesserter Produktivität und Reproduzierbarkeit.
- Wafer-Level-Test: Kundenspezifische Interposer-Konstruktionen, die ohne separates Nest auskommen – häufig als Vorstufe zur Massenproduktion.
- Mehrfachtest einzelner Bauteile: Eine Lösung ersetzt mehrere nacheinander geschaltete Sockel. Das spart Platz auf dem Loadboard und erlaubt modulare Aufbauten mit wechselbaren Einsätzen.
Gerade der modulare Ansatz rechnet sich langfristig: Über wechselbare Einsätze lassen sich verschiedene Bauteile auf derselben Grundplattform testen. Das senkt die Entwicklungskosten je Bauteil und verlängert die Nutzungsdauer der Gesamtlösung deutlich.
